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자동화 된 치수 시스템

자동 병합 검사 시스템

Burr 전극 판 측정 시스템

청정도 검사 시스템

청정도 검사 시스템

APIS (Automated Particle Inspection System, Cleanliness Testing System)는 Membrane Filter에서 입자 오염 (입자 오염) 및 불순물의 용이함과 정확하게 측정 가능한 시스템을 수집합니다.

  • 검사 시스템 청결의 필요성

  • 입자 오염 (입자 오염) 측정은 제조 산업의 모든 영역에서 가장 중요한 기술로 발전했습니다.

  • 입자 분석 및 희소성에 대한 유해 성분 (입자) 방지는 인체 및 기계에 치명적인 영향을 미칠 수 있습니다.

  • 입자 오염에 대한 요구가 있으며, 쉽고 정확한 측정이 가능 국내 시스템에서 수집 된 불순물이 Membrane Filter 증가하고 있습니다.


Support Specification 
ISO 16232, ILST-STD-CC1246D, ISO 4406-4407,USP 788,VDA19,DIN50602,Custom Standard
Complete particle analysis and processing of specification criteria (default or setpoint)
Scan map
Organize particle maps in real time while scanning filters
Intelligent detection
Accurate detection of low contrast images
Contrast correction
Software imbalance of light 
Entity estimation
When one object appears in several images, it is recognized as one object.
Visual report for cluster creation and color by object size or type
Automatic calibration
One-click calibration complete
Stage pattern
Supports square and circular stage pattern generation
Scale display
Scale output to result image
Custom features
Analyze / generate reports according to vendor characteristics


현미경 용